Xradia 410 Versa弥补了高性能石嘴山X射线显微镜与功能不强的计算机断层扫描(CT)系统之间的差距。 Xradia 410 Versa提供具有行业*佳分辨率，对比度和原位功能的非破坏性3D成像，使您能够针对*广泛的样本量进行突破性研究。 使用这种功能强大，经济高效的“主力”解决方案增强成像工作流程，即使在不同的实验室环境中也是如此

　　灵活的样品尺寸和类型的行业的4D和原位能力

　　Xradia 410 Versa X射线显微镜可提供经济高效，灵活的3D成像，使您能够处理各种样品和研究环境。随着时间的推移，非破坏性X射线成像可以保留并扩展您宝贵样品的使用范围。该仪器实现了0.9μm的真实空间分辨率，*小可实现的体素尺寸为100 nm。先进的吸收和相位对比(适用于软质或低Z材料)为您提供更多功能，以克服传统计算机断层扫描(石嘴山工业CT)方法的局限性。

　　Xradia Versa解决方案将科学研究扩展到超出基于投影的微米和纳米CT系统的极限。传统断层扫描依赖于单级放大倍率，Xradia 410 Versa采用基于同步加速器 - 口径光学系统的独特两阶段过程。它易于使用，具有灵活的对比度。远距离突破分辨率(RaaD)使您能够在原生环境和各种现场钻机中保持广泛的样品尺寸的亚微米分辨率。非破坏性多长度尺度功能允许您在各种放大倍率下对同一样品进行成像，从而可以独特地表征连续处理(4D)之间或受到模拟环境条件影响时材料微观结构特性的演变(原地)。

　　此外，Scout-and-Scan控制系统可通过基于配方的设置实现高效的工作流程环境，使Xradia 410 Versa易于为具有各种经验水平的用户提供便利。

　　优势

　　Xradia Versa架构采用两级放大技术，使您能够在远处(RaaD)独特地实现分辨率。与传统的微型CT一样，通过几何放大放大样本图像。在第二阶段，闪烁体将X射线转换成可见光，然后光学放大。减少对几何放大率的依赖使Xradia Versa仪器能够在较大的工作距离内保持亚微米分辨率。这使您能够有效地研究*广泛的样本量，包括在原位室内。

　　非破坏性3D成像，以保留和扩展有价值的样品的使用

　　高空间分辨率低至<0.9μm，体素大小低至100 nm

　　针对低Z材料和软组织的先进对比解决方案

　　行业领先的4D和原位功能，适用于灵活的样本量和类型

　　Scout-and-Scan™控制系统，易于使用的工作流程设置，是多用户环境的理想选择

　　重载样品台和扩展源和探测器台行程

　　*少需要样品制备

　　通过多个放大检测系统轻松导航

　　通过自动多点断层扫描和重复扫描连续操作